概述

　　HR-ch1101型X射线测厚仪基于X射线穿透被测物质后其强度发生变化的原理，主要用于塑料薄膜、金属箔、橡胶等的厚度测量。测量结果在显示器屏幕上以数字、曲线的形式实时显示，可输出各种控制信号(根据厂家的要求)。同时具有数据库查询功能。

　　工作原理

　　当x射线穿过物质层时，由于物质对x射线的吸收与散射作用，其能量被物质所衰减，被衰减能量的大小是与入射的x射线的波长，被穿透物质的厚度及物质的化学成分有关。如果我们把X射线的波长、物质的化学成分给固定了，那么x射线的衰减量就和物质的厚度成一定的关系，可以根据这种规律，通过测量x射线透过物质时所衰减的能量得到物质的厚度值。

　　放射源和电离室相对排列，被测物在二者之间。射线穿透被测物，有部分射线被吸收，未被吸收的部分射到电离室，使其中气体电离,产生电离电流。该电流经微电流放大器转变为电压信号，进入工控机后经过A/D转换变为数字量，再经过归一化处理、非线性校正及各种补偿运算，得出被测物的面密度和厚度值。测量结果在显示器屏幕上以数字、曲线的形式实时显示。

　　系统构成

　　1、 主控柜

　　主控柜内装计算机、显示器、电源模块，输入/输出接口板卡等，如图2

图2

　　2、 C型支架

　　搭载X射线管、高压电源、电离室及空气过滤器等，如图4

图4

　　3、 4寸LED数码管显示器

　　4、 水冷系统

　　采用冷水机为系统提供冷却用水。

　　一、 主要技术指标

　　●　测量范围：0.005-40mm

　　●　测量精度：≤±0.1%或0.001mm

　　●　响应时间：10ms～100ms可调

　　●　冷却方式：水冷

　　●　X射线管高压：70kV，5mA

　　●　测量精度：

　　二、 软件功能简介

　　1、主画面

　　2、测量画面

　　3、标定画面